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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

電容器高溫老化測試系統

符合標準:

MIL-STD-202E、GJB360等標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的獨石電容器、膽電容器、電解電容器、云母電容器、薄膜電容器進(jìn)行高溫壽命試驗或高溫老化篩選試驗。

技術(shù)特點(diǎn):

系統監控給電容器自動(dòng)充放電。

實(shí)時(shí)監測每個(gè)試驗器件的漏電流。

全過(guò)程試驗數據保存于硬盤(pán)中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過(guò)程漏電流IR變化曲線(xiàn)。


技術(shù)性能

表格 p33.png