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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

高溫柵反偏老化測試系統(單管、Ta型、保險絲保護)

符合標準:

AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的場(chǎng)效應管、IGBT單管等器件進(jìn)行高溫柵極反偏試驗。

技術(shù)特點(diǎn):

實(shí)時(shí)監測每個(gè)試驗器件的漏電流,漏電流最小監控值1nA。

全過(guò)程試驗數據保存于硬盤(pán)中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過(guò)程漏電流IR變化曲線(xiàn)。


技術(shù)性能

表格 p17.png