Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q100，MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等試驗標準。
適用范圍:
適用于各種封裝數字、模擬、數?；旌想娐愤M(jìn)行高溫動(dòng)態(tài)老化試驗。
技術(shù)特點(diǎn):
一板一區，可滿(mǎn)足多種不同試驗參數的器件同時(shí)老化。
完善的、種類(lèi)齊全的老化器件數據庫可供用戶(hù)調用。
64路回檢信號，可設置回檢通道信號出錯依據，并判斷該通道信號是否正常。
