Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。
適用范圍:
適用于各種封裝形式的二極管、三極管、場(chǎng)效應管、可控硅、IGBT單管等器件進(jìn)行高溫反偏試驗(HTRB)和高溫漏流測試（HTIR）。
技術(shù)特點(diǎn):
可實(shí)時(shí)監測每個(gè)的結溫TJ。
實(shí)時(shí)監測每個(gè)試驗器件的漏電流。
全過(guò)程試驗數據保存于硬盤(pán)中，可輸出Excel試驗報表和繪制全過(guò)程漏電流IR變化曲線(xiàn)。
